FS-1單波長橢偏儀
簡要描述:Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量,就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。
- 產(chǎn)品型號:Film Sense FS-1
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-07-24
- 訪 問 量:1477
Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。
大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量,就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。還可以測量大多數(shù)樣品的光學常 數(shù)和其他薄膜特性。
Film Sense FS-1多波長橢偏儀 這款功能強大的多波長橢偏儀,售價只是單一波長橢偏儀
和光譜橢偏儀的中等水平。FS-1 可應用于研究實驗室,超凈間,原位工藝腔體以及工業(yè)質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域
主要特點
? 4 個 LED 光源:藍色(465nm),綠色(525nm), 黃色(580nm),紅色(635nm)
? 橢偏儀探測器中無可移動部件
? 的膜厚精密性,大多數(shù)樣品精密度優(yōu)于 0.001nm(1 秒獲取數(shù)據(jù)),對于亞單原子薄膜精密度等于0.001nm
? 集成計算機,可實現(xiàn)對設備控制和數(shù)據(jù)分析,自帶 瀏覽器界面,可兼容任何現(xiàn)代計算機,筆記本或平 板電腦
優(yōu)勢
? 壽命長(長達 50,000 小時),更換 LED 燈便宜,校準時 間短或無需 PM 程序
? 快速測量(10ms 內(nèi)獲得多波長數(shù)據(jù))和性能穩(wěn)定
? 測量,只有橢偏儀可以實現(xiàn)
? 軟件設置和維護簡單
標準 FS-1 配置
? 65°入射角
? 手動放置樣品和調(diào)節(jié)高度
? 樣品尺寸大直徑 200mm 和厚度 23mm
? 樣品偏轉(zhuǎn)范圍+/-20
? 樣品上光束尺寸 5 x 12 mm
? 結(jié)構(gòu)緊湊(180 x 400 mm) 和輕巧(4.8 kg)
性能
FS-1 多波長橢偏儀擅長測量膜厚范圍 0-1000nm 的透明單一薄 膜的厚度和折射率。下表列出的是針對各種不同樣品,包括多 層膜樣品,F(xiàn)S-1 獲得的標準測量精密度和性數(shù)據(jù)。
應用領(lǐng)域
? 半導體行業(yè):二氧化硅和氮化物,高介電和低介電 材料,非晶和多晶材料,硅薄膜,光刻膠
? 光學薄膜行業(yè):高和低指數(shù)薄膜,如 SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2 等
? 顯示屏行業(yè):TCO(如 ITO),非晶硅薄膜,有機薄 膜(OLED 技術(shù))
? 數(shù)據(jù)存儲行業(yè):寶石,如碳膜
? 工藝研發(fā):原位表征薄膜沉積(速率和光學常數(shù)) VS 工藝條件,可兼容 MBE, MOCVD, ALD 和磁控濺射 等設備
? 化學和生物:在液體細胞實驗中探測亞單原子層材 料吸附
? 工業(yè):在線監(jiān)測和控制膜厚
In Situ 在線測量功能
? 亞單原子膜厚精密度
? 多工藝條件下測定薄膜光學常數(shù) n&k 和沉積速率,不 會破壞真空
? 監(jiān)測和控制多層膜結(jié)構(gòu)沉積
? FS-API 界面,外置軟件控制(兼容 LabVIEW )
? 兼容大多數(shù)薄膜沉積技術(shù):磁控濺射,ALD,MBE,MOCVD,電子束蒸發(fā)等
In Situ 在線測量
產(chǎn)品包括 FS-1多波長橢偏儀,帶緊湊自動 mapping 樣品 臺,可以實現(xiàn)快速,和可靠的薄膜均勻性測量。
特點和參數(shù)
? 4 段波長的橢偏數(shù)據(jù)(465, 525, 580, 635 nm),壽命長 的 LED 光源,探測器內(nèi)無可移動部件
? 可對 0-1000nm 透明薄膜進行的厚度測量
? 標準濃厚重復性 0.015 nm
? 集成聚焦探針,標準光斑尺寸 0.8 x 1.9 mm (其他尺寸 可選)
? 電動 Z 軸樣品臺自動準直
? 靈活掃描圖案編輯器
? 測量參數(shù)等值線繪制
聚焦光束選件
?樣品上光束尺寸減小到 0.8 x 1.9 mm 或 0.3 x 0.7 mm
聚焦光束檢測
聚焦光束檢測系統(tǒng)包括一個 FS-1 多波長橢偏儀,帶光束聚焦光學器件和一個手動位移臺。該系統(tǒng) 非常適合用于手動檢測和在圖案化半導體晶圓上 進行質(zhì)量控制測量。
?可進行科研測量,帶小尺寸光斑和相機成像功能
?手動位移臺,可容納 4’,5’,6’晶圓
?樣品上光束尺寸 0.3 x 0.7 mm
?樣品上光束位置視頻圖像
FS-XY150
? 標準晶圓 map 時間:60s(150mm 晶圓上取 49 個點)
? 結(jié)構(gòu)緊湊:600x600 mm, 16 kg
? 樣品臺行程(X,Y):150 x 150 mm, 精度:5 μm
FS-RT300
? 標準晶圓 map 時間:90s(300mm 晶圓上取 49 個點)
? 結(jié)構(gòu)緊湊:400x500 mm, 22 kg
? 樣品臺行程:R (線性) :150 mm, 精度:12 μm
? 角度(旋轉(zhuǎn))360°,精度:0.1°