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- P-7臺(tái)階儀
P-7臺(tái)階儀支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。
- 型號(hào):P-7
- 更新日期:2023-06-05 ¥面議
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- D-600臺(tái)階儀
Alpha-Step D-600臺(tái)階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。 D-600還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D和3D測量。 D-600包括一個(gè)電動(dòng)200毫米樣品卡盤和的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
- 型號(hào):D-600
- 更新日期:2019-07-22 ¥面議
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- D-500臺(tái)階儀
Alpha-Step D-500臺(tái)階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺(tái)階高度。 D-500還可以在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測量。 D-500包括一個(gè)手動(dòng)140毫米平臺(tái)和的光學(xué)系統(tǒng)以及加強(qiáng)視頻控制。
- 型號(hào):D-500
- 更新日期:2023-06-05 ¥面議
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- Zeta-20白光共聚焦
Zeta-20白光共聚焦是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡,可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot™技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。 Zeta-20具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
- 型號(hào):Zeta-20
- 更新日期:2023-07-24 ¥面議
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- Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀
Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡,可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù),可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩)無限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。 Zeta-20具備Multi-Mode(多模式)光學(xué)系統(tǒng)、簡單易用的軟件、以及低擁有成本,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。
- 型號(hào):
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- KLA P-7探針式表面輪廓儀 P-7
Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領(lǐng)域中有著市占率。P-7 是KLA公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng),歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新,集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。P-7建立在市場的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng) 的成功基礎(chǔ)之上。
- 型號(hào):KLA P-7
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議
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- Profilm-3DFilmetrics Profilm3D 光學(xué)輪廓儀
Filmetrics 已經(jīng)讓光學(xué)輪廓測量變得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直掃描干涉技術(shù) (VSI ),結(jié)合可選的高精度相移干涉技術(shù)(PSI ) 來提供納米尺度的表面形貌測量
- 型號(hào):Profilm-3D
- 更新日期:2024-08-08 ¥面議